컨퍼런스(국내)

Conference
[2016 Nano Korea] Analysis of Performance and Reliability between Nanowire FET and FinFET for Future
[2016 Nano Korea] Analysis of current-boosting using strain engineering and trenched source/drain in single & stacked nanowire FET
[2016 KCS] 3차원 시뮬레이션을 이용한 FinFET과 Planar FET의 양전압 온도 불안정성 특성비교
[2016 KCS] 3D TCAD를 이용한 4층의 Nanowire-FET에서의 sheet 저항 추출 방법
[2016 KCS] Investigation of Retention Characteristics in NAND Flash Memory
[2016 KCS] 5 nm 세대 나노 와이어의 기생 커패시턴스 성분 분석 및 추출