컨퍼런스(국내)

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[2016 KCS] 표면 거칠기를 고려한 5 nm 노드 나노와이어 펫의 채널 반지름에 따른 특성
[2015 대한전자공학회 하계학술대회] 시뮬레이션을 통한 MOSFET 산화막 내부트랩의 영향 비교분석
[2015 대한전자공학회 하계학술대회] MOSFET I-V 그래프에서 단일트랩이 GIDL current에 미치는 영향분석
[2015 대한전자공학회 하계학술대회] Planar MOSFET에서 측정을 통한 순수한 Gate Induced Drain Leakage 추출방법
[2015 대한전자공학회 하계학술대회] nFinFET과 pFinFET의 Fin 폭에 따른 충돌 이온화 비교
[2015 대한전자공학회 하계학술대회] 7nm bulk FinFET에서 Via 높이에 따른 Self-Heating효과 분석