컨퍼런스(국내)

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[2015 대한전자공학회 하계학술대회] MOSFET I-V 그래프에서 단일트랩이 GIDL current에 미치는 영향분석
[2015 대한전자공학회 하계학술대회] Planar MOSFET에서 측정을 통한 순수한 Gate Induced Drain Leakage 추출방법
[2015 대한전자공학회 하계학술대회] nFinFET과 pFinFET의 Fin 폭에 따른 충돌 이온화 비교
[2015 대한전자공학회 하계학술대회] 7nm bulk FinFET에서 Via 높이에 따른 Self-Heating효과 분석
[2015 대한전자공학회 하계학술대회] n-FinFET과 p-FinFET의 스페이서 길이에 따른 충돌이온화 특성 비교
[2015 대한전자공학회 하계학술대회] I/O FinFET에서 로컬도핑에 대한 고온캐리어 열화 효과 분석