컨퍼런스(국내)

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[2015 대한전자공학회 하계학술대회] Si1-xGex FinFET에서 Fin 내부의 불균일한 Ge 비율에 따른 GIDL 특성 분석
[2015 대한전자공학회 하계학술대회] GIDL전류 RTN을 발생시키는 트랩 특성에 대한 통계적 분석
[2015 대한전자공학회 추계학술대회] 농도에 따른 유전율 변화를 고려한 실리콘 내부의 단일 트랩에 의한 전계변화
[2015 대한전자공학회 추계학술대회] Si Bulk-FinFET의 게이트 길이 감소에 따른 비이상적인 커패시턴스-전압 특성 분석
[2015 대한전자공학회 추계학술대회] Fin 두께에 따른 Bulk FinFET의 IV 특성 분석
[2015 대한전자공학회 추계학술대회] Planar MOSFET에서 측정을 통한 기생 커패시턴스 추출방법