컨퍼런스(국내)

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[2015 대한전자공학회 추계학술대회] Fin 두께에 따른 Bulk FinFET의 IV 특성 분석
[2015 대한전자공학회 추계학술대회] Planar MOSFET에서 측정을 통한 기생 커패시턴스 추출방법
[2015 대한전자공학회 추계학술대회] MOSFET에서 트랩의 전계와 SRH 전류 변화에 따른 TAT GIDL 전류 변화 분석 및 검증
[2015 대한전자공학회 추계학술대회] Strain 기술과 계면 결함에 따른 nFinFET의 커패시턴스-전압 특성 분석
[2015 대한전자공학회 하계학술대회] 정확한 Field Enhancement Factor를 고려하여 트랩 종류에 따른 트랩사이드 거리 추출
[2015 대한전자공학회 하계학술대회] 실리콘 내부에 있는 slow trap에 의한 TAT전류 변화 분석