S. H. Seo, S. W. Kim, J. U. Lee, C. H. Lee, G. C. Kang, K. S .Roh, K. Y. Kim, S. Y. Lee, K. J. Song, C. M. Choi, S. R. Park, B. G. Park, H. Shin, J. D. Lee, K. S. Min, D. J. Kim, D. H. Kim, and D. M. Kim, ” Narrow Width Effect of an NROM-type SONOS Flash Memory Device on Program/Erase Cycling Behavior”, The 14th Korean Conference on Semiconductors, Seogwipo, Korea, pp. 67-68, Feb. 8-9, 2007