[2015 대한전자공학회 추계학술대회] Fin 두께에 따른 Bulk FinFET의 IV 특성 분석 - DRL

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[2015 대한전자공학회 추계학술대회] Fin 두께에 따른 Bulk FinFET의 IV 특성 분석

기간

2015

참가자

김현석, 손도균, 강덕승, 신형철

대회명

대한전자공학회 추계학술대회

김현석, 손도균, 강덕승, 신형철, “Fin 두께에 따른 Bulk FinFET의 IV 특성 분석”, 대한전자공학회 추계학술대회 2015.