전상빈, 유성원, 이현슬, 서영수, 고형우, 고형우, 고결, 전현옥, 신형철, “Planar MOSFET에서 측정을 통한 순수한 Gate Induced Drain Leakage 추출방법”, 대한전자공학회 하계학술대회, 2015.
기간
2015
참가자
전상빈, 유성원, 이현슬, 서영수, 고형우, 고형우, 고결, 전현옥, 신형철
대회명
대한전자공학회 추계학술대회
전상빈, 유성원, 이현슬, 서영수, 고형우, 고형우, 고결, 전현옥, 신형철, “Planar MOSFET에서 측정을 통한 순수한 Gate Induced Drain Leakage 추출방법”, 대한전자공학회 하계학술대회, 2015.