기간
2015
참가자
강덕승, 손도균, 김현석, 신형철
대회명
대한전자공학회 추계학술대회
강덕승, 손도균, 김현석, 신형철, “Si1-xGex FinFET에서 Fin 내부의 불균일한 Ge 비율에 따른 GIDL 특성 분석”, 대한전자공학회 하계학술대회, 2015.
