기간
2016
참가자
손도균, 고 결, 신형철
대회명
Korean Conference on Semiconductors
손도균, 고 결, 신형철, “표면 거칠기를 고려한 5 nm 노드 나노와이어 펫의 채널 반지름에 따른 특성”, Korean Conference on Semiconductors(KCS), 2016.