기간
2016
참가자
서영수, 김현수, 김종수, 신형철
대회명
Korean Conference on Semiconductors
서영수, 김현수, 김종수, 신형철, “3차원 시뮬레이션을 이용한 FinFET과 Planar FET의 양전압 온도 불안정성 특성비교”, Korea Conference on Semiconductor (KCS), 2016.