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[2016 KCS] 3차원 시뮬레이션을 이용한 FinFET과 Planar FET의 양전압 온도 불안정성 특성비교

기간

2016

참가자

서영수, 김현수, 김종수, 신형철

대회명

Korean Conference on Semiconductors

서영수, 김현수, 김종수, 신형철, “3차원 시뮬레이션을 이용한 FinFET과 Planar FET의 양전압 온도 불안정성 특성비교”, Korea Conference on Semiconductor (KCS), 2016.