고형우, 서영수, 김현수, 김종수, 신형철, “3D TCAD를 이용한 4층의 Nanowire-FET에서의 sheet 저항 추출 방법”, Korea Conference on Semiconductor (KCS), 2016.
기간
2016
참가자
고형우, 서영수, 김현수, 김종수, 신형철
대회명
Korean Conference on Semiconductors
고형우, 서영수, 김현수, 김종수, 신형철, “3D TCAD를 이용한 4층의 Nanowire-FET에서의 sheet 저항 추출 방법”, Korea Conference on Semiconductor (KCS), 2016.