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[2016 KCS] 5 nm 세대 나노 와이어의 기생 커패시턴스 성분 분석 및 추출

기간

2016

참가자

김종수, 서영수, 김현수, 신형철

대회명

Korean Conference on Semiconductors

김종수, 서영수, 김현수, 신형철, “ 5 nm 세대 나노 와이어의 기생 커패시턴스 성분 분석 및 추출”, Korean Conference on Semiconductors(KCS), 2016.