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[2017 KCS] FinFET, Lateral and Vertical Nanowire FET를 이용한 6T-SRAM 특성 비교 분석 및 최적화

기간

2017

참가자

서영수, 김신근, 강명곤, 신형철

대회명

Korean Conference on Semiconductors

서영수, 김신근, 강명곤, 신형철, “FinFET, Lateral and Vertical Nanowire FET를 이용한 6T-SRAM 특성 비교 분석 및 최적화”, Korean Conference on Semiconductors(KCS), 2017.