기간
2017
참가자
서영수, 김신근, 강명곤, 신형철
대회명
Korean Conference on Semiconductors
서영수, 김신근, 강명곤, 신형철, “FinFET, Lateral and Vertical Nanowire FET를 이용한 6T-SRAM 특성 비교 분석 및 최적화”, Korean Conference on Semiconductors(KCS), 2017.