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Reliable 2-bit/cell NVM technology using twin SONOS memory transistor

저자

B.Y. Choi, B.-G. Park, J.D. Lee, H. Shin, Y.K. Lee, K.H. Bai, D.-D. Kim, D.-W. Kim, C.-H. Lee and D. Park

저널 정보

IEEE Electronics Letters

출간연도

2005

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