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Investigation of Endurance Characteristics in 3-D nand Flash Memory With Trap Profile Analysis

저자

Hyungjun Jo, Jongwoo Kim, Yonggyu Cho, Hyunyoung Shim, Jaesung Sim, Hyungcheol Shin

저널 정보

IEEE Transactions on Electron Devices(TED)

출간연도

2024

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