바로가기 메뉴
본문 바로가기
푸터 바로가기
TOP

 

Prediction of Random Telegraph Noise-induced Threshold Voltage Shift and Its Scaling Dependency Using Machine Learning

저자

Eunseok Oh, Hyungcheol Shin

저널 정보

IEEE Journal of the Electron Devices Society

출간연도

2024

링크